No.0486 GCIBを用いたXPS分析 No.0487 酸化物蛍光体材料における耐久処理前後の構造および状態評価 No.0488 TCO(Transparent Conductive Oxide)のXPS, XAFS, REELSによる電子状態・構造解析 No.0489 STXMによるLIB正極の化学状態マッピング No.0490 昇温 in situ XAFSを用いたLIB正極の化学状態の熱安定性評価 No.0491 表面XAFSによる正極活物質の劣化評価