04/01/2020
No.0398 イオンクロマトグラフィー質量分析法(IC/MS)による培地中の未知成分の推定
培地は用途や目的により無機イオンや有機酸、アミノ酸など様々な成分が含まれている。イオンクロマトグラフィー質量分析法(IC/MS)を用いることで、培地に含まれる未知のイオン成分を推定または同定することが可能である。
ICによる培地中のイオン成分の測定
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| ICは測定の感度や再現性が高く、着目成分の定量に有力な手法であるが、未知成分についての情報を得ることが困難である。 |
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| 前処理 |
図1 培地の前処理方法 |
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| イオンクロマトグラフィーによる測定 |
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IC/MS/MSによる培地中の未知成分の推定
| タンデム型の質量分析計を用いることで未知成分を推定することが可能となる。また、標品を用いた確認により同定することも可能である。 |
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分析機能と原理
カテゴリー
材料・素材, ライフサイエンス
分類
有機材料・化成品, 金属・無機材料, 電子・機能性材料, 再生医療／培養装置・培地・試薬, 診断薬・検査機器・バイオセンサ, バイオ