従来から行っている紫外可視領域の発光スペクトル（250～800 nm）やりん光寿命測定（数10 μs～数 s）に加えて、近赤外領域の発光スペクトル装置（800～1650 nm）および蛍光寿命測定装置（数100 ps～数 μs）を導入いたしました。
　近赤外領域の発光測定では、半導体材料やカーボンナノチューブ、希土類元素を含む材料の評価や、生体内近赤外蛍光プローブ分子の研究の他、一重項酸素の検出などにも応用が可能です。また、蛍光寿命測定からは、有機ELや太陽電池材料などの基礎特性評価の他、光励起状態での挙動について知見を得ることが可能です。ぜひお気軽にお問合せ下さい。