2018年3月2日
東レリサーチセンター
「第65回 応用物理学会春季学術講演会」への出展について
→終了しました。当社ブースにお立ち寄りいただきありがとうございました。
平素は(株)東レリサーチセンターの分析・解析サービスに対し、格別のお引き立てを賜り
厚く御礼申し上げます。
3月17日(土) ～ 20日(火)の4日間、ベルサール高田馬場にて 第65回 応用物理学会春季学術講演会に出展致します。
早稲田大学・西早稲田キャンパスでは、口頭発表及びランチョンセミナーも予定しております。
皆様のご来場をお待ちしております。
■口頭発表（会場：早稲田大学・西早稲田キャンパス）
2018年3月18日(日) 15:00 〜 15:35 F210
[18p-F210-4] シルバーナノワイヤー探針増強ラマン散乱顕微鏡
藤田 康彦1、猪瀬 朋子2、〇雲林院 宏 2,3
(1.東レリサーチセンター、2.北大電子科学研究所、3.ルーバン大学)
2018年3月18日(日) 18:15 〜 18:30 D103
[18p-D103-19] 近接場ラマン分光法を用いたSiO2/SiCの界面応力評価
〇村上 昌孝1、藤田 康彦1
(1.東レリサーチセンター)
2018年3月19日(月) 13:30 〜 13:45 D103
[19p-D103-1] [講演奨励賞受賞記念講演] 4H-SiC PiNダイオードの順方向通電劣化における
積層欠陥拡大起源となる基底面転位の構造解析
〇林 将平1、2、山下 任1、3、先崎 純寿1、宮里 真樹1,4、宮島 將昭1,4、加藤 智久1、
米澤 喜幸1、児島 一聡1、奥村 元1
(1.産総研、2.東レリサーチセンター、3.昭和電工、4.富士電機)
■ポスター展示
| 期間 | 2018年3月17日（土）～3月20日（火） |
| 時間 | 3月17日（土） 12:00～18:00
3月18日（日）・19日（月） 9:30～18:00
3月20日（火） 9:30～15:30 |
| 場所 | ベルサール高田馬場
（東京都新宿区大久保3-8-2） |
■ランチョンセミナー
日時：2018年3月18日（日）12：15～13：00
会場：早稲田大学・西早稲田キャンパス C103（52号館）
演題：
【半導体】分光分析手法を用いた半導体材料の欠陥評価
【ライフイノベーション】ライフイノベーション分野におけるイメージング分析手法の活用