先日導入いたしました最先端二次イオン質量分析装置「NanoSIMS 50L」が12月17日に稼働いたします。本装置は50 nmの空間分解能で元素分析が可能であり、従来型SIMSに比べて、格段に小さい領域にて高感度イメージング測定を行うことができます。半導体やセラミックスからライフイノベーション分野に至る様々なフィールドでの活用を予定しています。ぜひお問合せください。