2019年2月22日
東レリサーチセンター
「第66回 応用物理学会春季学術講演会」への出展について
→終了しました。ご来場いただきまことにありがとうございました。
平素は（株）東レリサーチセンターの分析・解析サービスに対し、格別のお引き立てを賜り厚く御礼申し上げます。
3月9日（土） ～ 12日（火）の4日間、東京工業大学 大岡山キャンパスにて、第66回 応用物理学会春季学術講演会が開催されます。
当社は展示会出展とあわせて、ランチョンセミナーを開催いたします。
皆様のご来場をお待ちしております。
■ランチョンセミナー （①②同日時で開催）
| ①学生・若手研究者向け |
| 日時 | 2019年3月11日（月）12：15～13：00 |
| 会場 | W611 |
| 演題 | 学生・若手研究者のための分析・計測技術基礎講座その２
～製品解析からわかるデバイス開発のトレンド～ 【総合企画室 杉山 直之】 |
| ②先端技術者向け |
| 日時 | 2019年3月11日（月）12：15～13：00 |
| 会場 | W621 |
| 演題 | 半導体デバイス設計のための熱特性評価 【材料物性研究部 遠藤 亮】
NanoSIMSによる半導体デバイスの分析事例 【表面科学研究部 中田 由彦】 |
■展示会場
| 会期 | 2019年3月9日（土）～11日（月） 9：30～18：00
2019年3月12日（火） 9：30～12：00 |
| 会場 | 東京工業大学 大岡山キャンパス 体育館１階
（東京都目黒区大岡山2丁目12−1） |
| 小間番号 | Z-1 |
■口頭発表
2019年3月10日（日） 9：00 ～ 10：00 M121 （H121）
[10a-M121-4] ラマン分光法を用いたGaN HEMTの応力温度依存性評価
〇内田 智之、杉江 隆一