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2018年9月21日
東レリサーチセンター
Surface and Interface Analysis 「Cover Image」に採用されました
このたび、雑誌 Surface and Interface Analysis に当社 表面科学研究部の鮫島純一郎が執筆した論文が、表紙(Cover Image)に採用されました(図1)。論文名は以下の通りです。


「An effect of residual gas component on detected secondary ions during TOF-SIMS depth profiling and a method to estimate contained component, J. Sameshima, M. Yoshikawa, SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, 50, 8, p.802-806, (2018) 」
 
 

Surface and Interface Analysis

図1

 
本内容は、DualビームTOF-SIMSによる軽元素の振る舞いについての基礎的な研究です。今後とも高度な技術をもって社会に貢献できるよう、信頼性の高いデータの取得と技術・考察力の向上に努めてまいります。


https://onlinelibrary.wiley.com/toc/10969918/2018/50/8