11/18/2019
No.0384 NanoSIMSによる金属材料の元素分析
NanoSIMSは、SIMS(二次イオン質量分析)の中で最も空間分解能が高く、同時に高い感度、高い質量分解能を両立することが可能な装置である。今回は金属材料に含まれる不純物元素をNanoSIMSによるイメージング分析で評価した事例を紹介する。
NanoSIMSの装置構成、スペック
Imaging & Depth Profile
SIMSで最も高い空間分解能
二次イオン光学系の高い透過率
磁場セクタ型による高い質量分解能
1次イオン種 :Cs
+
, O
-
最小ビーム径 :50 nm
検出下限 :ppm~
質量分析計 :二重収束型
同時測定イオン数 :7
分析深さ :数10 nm ~ 数100 nm
NanoSIMSによるチタン合金の元素分析
分析機能と原理
【表面分析】二次イオン質量分析法(Secondary Ion Mass Spectrometry:SIMS)
カテゴリー
材料・素材
分類
金属・無機材料
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