03/31/2022
No.0591 μRBSによる微小部での高確度組成分析
受託分析会社として世界初となる、収束型マイクロイオンビームラインを備えたRBS装置を導入した。高速イオンビームを用いることで、局所領域の正確な組成評価が実現可能となった。
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微小部の組成分析 |
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微小部における組成分析のアプリケーション |
デバイス 単粒子 断面加工サンプル |
| µRBS | SEM-EDX | EPMA |
空間分解能 | >2 µm | >10 nm | >100 nm |
検出元素 | H, Li~U | B~U | B~U |
定量精度 | ◎ | △ | ○ |
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【 µRBSの特徴 】 |
・ 確度の高い絶対組成
・ 全元素定量(Hも可能)
・ 核反応による軽元素の高感度測定(NRA)
・ 薄膜密度分析
・ 受託分析会社として世界初導入 |
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µRBS (microbeam Rutherford Backscattering Spectrometry)分析
ディスプレイ材料(YAG粒子)における適用例 |
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◆ 断面SEM像 | ◆ µRBS解析結果 |
(LED素子をBIB加工で断面作成)
素子断面からYAG単粒子を限定して測定可能 | |
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◆ 各モードの原理 | |
RBS : Rutherford Backscattering Spectrometry (散乱された入射イオンを分析)
HFS : Hydrogen Forward Scattering Spectrometry (反跳した水素原子を分析)
NRA : Nuclear Reaction Analysis (核反応によって生じた放射線を分析) |
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定量確度の高いRBS分析がµmオーダーの空間分解能で可能になりました。 |
カテゴリー
自動車, IT機器, 半導体・実装
分類
有機ELディスプレイ, 実装・パッケージング, 化合物半導体・オプトデバイス, MEMS・センサ・TSV