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03/31/2022

No.0591 μRBSによる微小部での高確度組成分析

受託分析会社として世界初となる、収束型マイクロイオンビームラインを備えたRBS装置を導入した。高速イオンビームを用いることで、局所領域の正確な組成評価が実現可能となった。

P02369.pdf
微小部の組成分析
微小部における組成分析のアプリケーション

             デバイス                   単粒子             断面加工サンプル

µRBS
SEM-EDX
EPMA
空間分解能
>2 µm
>10 nm
>100 nm
検出元素
H, Li~U
B~U
B~U
定量精度
【 µRBSの特徴 】
 ・ 確度の高い絶対組成
 ・ 全元素定量(Hも可能)
 ・ 核反応による軽元素の高感度測定(NRA)
 ・ 薄膜密度分析
 ・ 受託分析会社として世界初導入

µRBS (microbeam Rutherford Backscattering Spectrometry)分析

ディスプレイ材料(YAG粒子)における適用例
◆ 断面SEM像◆ µRBS解析結果
(LED素子をBIB加工で断面作成)

素子断面からYAG単粒子を限定して測定可能
◆ 各モードの原理
  
 
RBS : Rutherford Backscattering Spectrometry (散乱された入射イオンを分析)
HFS : Hydrogen Forward Scattering Spectrometry (反跳した水素原子を分析)
NRA : Nuclear Reaction Analysis (核反応によって生じた放射線を分析)
定量確度の高いRBS分析がµmオーダーの空間分解能で可能になりました。


カテゴリー

自動車, IT機器, 半導体・実装

分類

有機ELディスプレイ, 実装・パッケージング, 化合物半導体・オプトデバイス, MEMS・センサ・TSV