パネル写真(各色表示)

配向膜表面のTOF-SIMS分析

TOF-SIMSによるイメージングデプス

R・Gの境界に、Brの強いピンホール状(配向膜～ITO)の領域が存在している(青矢印)。F(液晶)はその直下周辺のCF部(R)に局在している(緑 矢印)。ピンホールを通して液晶、画素成分が相互に拡散し、G成分の配向膜への付着により、シミ状表示不良が発生した可能性が考えられる。 

分析機能と原理

• 【表面分析】飛行時間型二次イオン質量分析法(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry:TOF-SIMS)

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