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09/24/2014

No.0047 ホウ素の気中濃度の異なる環境におけるSi ウエハへのホウ素の吸着

ホウ素の気中濃度の異なる環境(~600ng/m3)にSiウエハを静置して、その吸着量の経時変化を調査した結果を示す(気中濃度の測定はインピンジャー捕集/ICP-MS法で実施している)。ホウ素は、HEPAフィルターのアウトガスとして、クリーンルーム内に発生源があると言われているが、このような評価により、Siウエハに比較的短時間で吸着することや、クリーンルームの気中での濃度との相関を調べることができる。

ホウ素の気中濃度の異なる環境におけるSi ウエハへのホウ素の吸着

分析機能と原理


カテゴリー

半導体・実装

分類

クリーンルームエア