07/29/2014
No.0004 顕微FT-IR法によるカラーフィルター上異物の分析
液晶基板において配向膜の下に存在する微小異物(10μm程度)について、マイクロサンプリング後、FT-IR分析を行い、同定を行った例を示す。
模式図
模式図
サンプリング前後の顕微鏡像
FT-IR分析結果
顕微FT-IR分析により、微小異物の主成分はG顔料成分であると判明した。
当社独自のマイクロサンプリングにより微小異物、配向膜のみの分析が可能である。
分析機能と原理
カテゴリー
IT機器
分類
液晶ディスプレイ