12/20/2021
No.0561 MS/MS搭載TOF-SIMSによる直鎖or分岐構造PFPEの同定
通常のTOF-SIMSでは同じ繰り返し構造を持つポリマーを区別することが困難であるが、MS/MS測定を行うことによって、パーフルオロポリエーテル（PFPE）のDEMNUM®とKrytox®の区別が可能である。
本手法は、試料表面の微小部に極微量しか付着しておらず、NMR等のバルク分析が行えない場合に有効である。
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| PFPEグリースのTOF-SIMS測定 |
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| DEMNUM®とKrytox®のスペクトル形状は概ね類似しており、繰り返し構造に相当するC3F6O間隔のピーク群が特徴的に観測される。弱いピーク（赤字）に違いが見られるが、実際のサンプルで、付着量が少なく感度不足の場合や、不純物（分解物）の寄与が含まれる場合には、DEMNUM®かKrytox®かの区別が困難である。 |
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PFPEグリースのTOF-SIMSによるMS/MS測定
| 351C6F13O2-（2量体相当）をプリカーサーイオンとしてコリジョンセルに誘導し、生じたプロダクトイオンから元の構造を推定した。 |
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| DEMNUM®とKrytox®では同じプリカーサーイオンから異なるプロダクトイオンが観測されることから、MS/MS測定によって両者を区別することが可能である。 |
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カテゴリー
材料・素材, 半導体・実装
分類
高分子材料, 有機材料・化成品, 実装・パッケージング