TOF-SIMSは、極表面における元素および化学構造の情報を高感度,高空間分解能で測定できる表面分析手法である。 使用済みOPCドラム表面について測定を実施したところ、新品では確認できなかった脂肪族WAXやスルホン酸化合物(SO₂^-、SO₃^-)イオンなどが確認された。 また、ナトリウム(Na⁺)やスルホン酸化合物の分布は表面付着したトナーと同様な分布を示したが、脂肪族WAXは印刷方向と一致した方向に直線状に分布していることが判明した。