10/01/2021
No.0495 XAFS分析による配向性評価
XAFS (X-ray Absorption Fine Structure)分析により、着目元素の化学状態や配位環境に加えて、薄膜試料などの配向性評価が可能である。ここでは、HOPGおよび有機薄膜太陽電池のドナー材料について、配向性を評価した事例を紹介する。
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| HOPGの配向性評価 |
| HOPG (Highly Oriented Pyrolytic Graphite)について、 π共役面と入射光が成す角(θ)を変化させ、C K端XAFS測定を行うことにより、配向性評価が可能である。 |
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C K端XANESスペクトル
試料面に対して、π共役面は平行配向
配向度※の数値化が可能(0.97) | 
炭素のπ軌道と入射X線の電場ベクトルとの相互作用により、入射角度(θ)に応じてスペクトル形状が変化
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有機薄膜太陽電池材料の配向性評価
| Si基板上に成膜(~100 nm)した有機薄膜太陽電池のドナー材料である、ポリ3-ヘキシルチオフェン(P3HT)、およびフルオレン共重合体(N-P7)について、C K端XAFS分析より、配向性を評価する。 |
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カテゴリー
電池, IT機器, 材料・素材, 半導体・実装
分類
太陽電池, 高分子材料, 有機材料・化成品, 電子・機能性材料