12/05/2018
No.0366 NanoSIMSによる光ファイバー断面の二次イオンイメージ
NanoSIMSにより、光ファイバー断面の二次イオンイメージ測定を行った。高い空間分解能と高い検出感度により鮮明な二次イオンイメージが得られている。クラッド層、コア層のF, Geの詳細な分布を捉えることが可能である。
NanoSIMSの装置構成、スペック
光ファイバー断面
NanoSIMS
NanoSIMSによる光ファイバー断面の二次イオンイメージ
分析機能と原理
【表面分析】二次イオン質量分析法(Secondary Ion Mass Spectrometry：SIMS)
カテゴリー
IT機器
分類
電子・機能性材料
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