07/19/2016
No.0308 OLEDの劣化解析 －有機膜中極微量水分の影響－
OLED素子の長期駆動に伴う輝度低下の原因の一つとして、素子中微量水分による有機成分の構造変化が考えられる。極低ダメージでの有機成分深さ方向分析が可能なGCIB-TOF-SIMS分析により、含酸素構造に着目し、水分由来の構造変化を各層ごとに捉えることを試みた。その結果、EML（Emission layer）におけるホスト材料の構造変化を捉えることができた。
OLED試料構成、輝度減衰曲線
主成分深さ方向分布（GCIB-TOF-SIMS）
初期品での主成分分布（正2次イオンプロファイル）
GCIB-TOF-SIMSによる駆動劣化前後OLED素子の比較
ホスト構造変化物などの分布比較（負2次イオンプロファイル）
EMLでの負2次イオン強度比較（4水準比較）
酸素供給源は系中の残留水分（有機膜中やITO上）と推定。EMLには酸素を含む低分子含酸素成分も存在していると考えられる。
分析機能と原理
カテゴリー
IT機器
分類
有機ELディスプレイ