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07/19/2016

No.0308 OLEDの劣化解析 -有機膜中極微量水分の影響-

OLED素子の長期駆動に伴う輝度低下の原因の一つとして、素子中微量水分による有機成分の構造変化が考えられる。極低ダメージでの有機成分深さ方向分析が可能なGCIB-TOF-SIMS分析により、含酸素構造に着目し、水分由来の構造変化を各層ごとに捉えることを試みた。その結果、EML(Emission layer)におけるホスト材料の構造変化を捉えることができた。

OLED試料構成、輝度減衰曲線

OLED試料構成、輝度減衰曲線

主成分深さ方向分布(GCIB-TOF-SIMS)

初期品での主成分分布(正2次イオンプロファイル)

初期品での主成分分布(正2次イオンプロファイル)

GCIB-TOF-SIMSによる駆動劣化前後OLED素子の比較

ホスト構造変化物などの分布比較(負2次イオンプロファイル)

ホスト構造変化物などの分布比較(負2次イオンプロファイル)

EMLでの負2次イオン強度比較(4水準比較)

EMLでの負2次イオン強度比較(4水準比較)

酸素供給源は系中の残留水分(有機膜中やITO上)と推定。EMLには酸素を含む低分子含酸素成分も存在していると考えられる。

Fig.6

分析機能と原理


カテゴリー

IT機器

分類

有機ELディスプレイ