LEISによる触媒試料の表面原子第一層評価

08/07/2020

No.0431 LEISによる触媒試料の表面原子第一層評価

LEISは表面第一層のみの元素情報が得られる、唯一の表面分析手法である。排ガス浄化や燃料電池, 石油化学系などの触媒において、気相や液相成分の反応場となる表面原子第一層の元素組成評価がLEISにより可能であり、触媒活性成分の露出や被覆の直接的な議論が可能である。


原理

LEIS: Low energy ion scattering
	測定前の前処理条件(選択可) 　原子照射や加熱などの前処理が可能　♦　O原子照射による表面クリーニング　♦　O₂雰囲気での加熱：～600 ℃ 　♦　H₂雰囲気での加熱：～ 300 ℃ 　♦　真空中での加熱：～ 1000 ℃ 適用事例　♦　触媒活性貴金属の露出割合（単一系や合金系、コアシェル粒子など）　♦　表面被覆成分の割合評価（PM, Ash, coke, 硫黄被毒など）
♦　表面第1層のみの元素情報が得られる。 ♦　XPS, TOF-SIMSより検出深さが浅い。　　⇒ 露出成分、被覆成分の正確な極表面分析が可能。

Pt触媒上への炭素堆積評価



		石油化学系や排ガス触媒などのPt担持触媒低温での使用により炭素堆積再生処理によりPtが再び露出
	Pt露出量に応じてピーク強度が増減

2元系PtAu触媒の露出元素評価

♦　表面第一層の金属露出量に応じた信号強度が得られる。 ♦　単体の参照データ取得すれば、表面組成の定量が可能。　　※分析データはいずれも、tascon GmbHより提供

カテゴリー

自動車, 電池, 環境, 材料・素材

分類

燃料電池, 排ガス・排ガス触媒, 金属・無機材料